Zeiss Geminisem 300 può eseguire imaging di elettroni secondari inlens e imaging elettronico retrodiffuso contemporaneamente con una risoluzione fino a 0,7 nm. Può realizzare imaging a risoluzione su larga scala e sotto-nano, senza distorsione, senza distorsione. Il rivelatore EDS con una finestra da 100 mm2 può eseguire determinazione quantitativa in tempo reale di elementi di punto, linea e area. Il rivelatore EBSD può raccogliere EBSP senza distorsione e risoluzione dei megapixel per la deformazione dettagliata e l'analisi delle fasi.

Lo spettro Arcos ICP-OES ha una struttura verticale a doppia osservazione (DSOI) che aumenta la sensibilità ed elimina i problemi di compatibilità di contaminazione/matrice. Il suo sistema ottico ORCA può catturare spettri nell'intervallo 130-770 nm. Rispetto ai sistemi a base di echelle con dispersione incrociata che utilizzano una grata e un prisma a gradino medio, offre prestazioni nella gamma UV/VUV con intensità del segnale fotoacustico che varia fino a 5 volte in più.

Lo SpectroLab è caratterizzata dal sistema di registrazione del rivelatore basato su CMOS al mondo, che lo rende ideale per l'analisi dei metalli di fascia alta. Fornisce un'analisi estremamente rapida, altamente accurata ed eccezionalmente flessibile per applicazioni che vanno dagli elementi di traccia alla multimetro.

Jena Novaa 800F presenta una giostra integrata con un lettore RFID per 8 lampade a catodo cavo codificato, correzione dello sfondo del deuterio, una panca ottica comprovata in modalità a raggio singolo e doppio, nonché in modalità di emissione e l'ultimo rilevatore a stato solido Siosens. I suoi molteplici accessori intelligenti massimizzano la produttività, la sicurezza e la facilità d'uso per le routine analitiche.

Il sistema di test del materiale universale da 68TM-30 ha sensori di carico da 30KN e 1KN con una precisione di 0,5 grado nell'intervallo di 0,1 ~ 100%. Il sistema di test può eseguire i dati integrati di controllo e acquisizione a circuito chiuso, nonché identificazione automatica e calibrazione dei sensori. Il suo estensometro video non contenente ad alta precisione AVE2 ha una risoluzione di 0,5 μm e utilizza un sistema di illuminazione brevettato polarizzato e ventole CDAT per eliminare l'influenza del personale, dell'illuminazione e del flusso d'aria sui risultati del test per una misurazione di deformazione altamente ripetibile e accurata. $ $$.

Il progetto VR-5200 utilizza la luce strutturata a strisce e un sensore CMOS ad alta precisione per catturare immagini e misurare l'altezza e la posizione di ciascun punto. Dotato di una lente a bassa potenza, può misurare gamme fino a 200 × 100 × 50 mm. La lente ad alta magnificazione riduce la risoluzione del display a 0,1 μm, consentendo la misurazione in lotti senza contatto di forma, fluttuazione e rugosità.

L'IM-8020 utilizza una lente telecentrica doppia con eccezionali capacità di rilevamento dei bordi per misurare campioni di altezze variabili con un solo clic. Le sue prestazioni di rilevamento sono 3 volte quella dei modelli convenzionali grazie al suo CMOS da 20 megapixel e al nuovo algoritmo di rilevamento dei bordi. Con un'area di misurazione di 300 mm × 200 mm e il doppio della velocità dei modelli tradizionali, può misurare fino a 300 parti in pochi secondi. Ciò consente misurazioni veloci, accurate e facili, migliorando notevolmente la precisione riducendo il tempo di misurazione e l'errore umano.

L'analizzatore di particelle laser HELOS/BR è dotato di una potente e robusta unità di dispersione a secco Rodos per analisi di dimensioni delle particelle rapide e ripetibili dei campioni a secco. Ha un intervallo di misurazione da 0,3 a 175 μm e una precisione inferiore allo 0,3%.

Il Giove STA 449F3 è uno strumento robusto, flessibile e facile da usare che determina contemporaneamente gli effetti calorici e la variazione di massa. Combina un DSC a flusso di calore ad alte prestazioni con un termobalance che ha una risoluzione del microgramma, offrendo un carico di campione e una gamma di misurazione senza eguali.